Facultatea de Fizica Iasi - Universitatea "Al. I. Cuza"
ro en
Imagini din facultate
Calendar
Spectrometru de fotoelectroni de raze X - XPS

Spectroscopia de fotoelectroni de raze X (X-ray Photoelectron Spectroscopy - XPS) este larg utilizată în studiul suprafeţelor materialelor. Această metoadă, cunoscută şi sub denumirea de spectroscopie de electroni pentru analiză chimică (ESCA), este utilizată pentru analiza compoziţiei chimice a suprafeţelor. Aceasta este o metodă de analiză nedistructivă / distructivă ce permite identificarea tuturor elementelor chimice, în afară de H şi He (care nu au nivele de profunzime).

Detalii tehnice:

  1. Diametrul fasciculului de raze X, Al Kα (1486,7 eV): 8,5 µm - 100 µm
  2. Obţinerea de imagini date de electronii secundari cu rezoluţie de 8,5 µm, aria minimă a suprafeţei scanate (100 x 100) µm2, aria maximă (1400 x 1400) µm2
  3. Puterea de rezoluţie a analizorului de tip condensator cu sector emisferic: 0,49 eV pentru materialele anorganice şi 0,85 eV pentru materialele organice
  4. Posibilitatea eliminării încărcării electrostatice a materialelor dielectrice prin bombardarea în acelaşi timp a suprafeţelor acestora cu două fascicule de ioni şi electoni de energii joase
  5. Utilizarea tunului cu ioni de Ar+ (tensiune maximă 5kV, curent de emisie 15 mA) pentru îndepartarea contaminanţilor (C, O, etc.) de pe suprafeţele materialelor analizate, realizarea de profile de concentraţie ale sistemelor multistrat, spectroscopie de fotoelectroni de raze X rezolvată unghiular (ARXPS)
  6. Sursa externă de raze X cu doi anozi: Al (1486,6 eV) şi Mg (1253,6 eV)
  7. Tun electronic (tensiunea maximă 5kV, diametrul minim al fasciculului 100 nm) ce permite studiul compozitiei chimice de suprafaţă utilizând spectroscopia de electroni Auger (AES)
  8. Presiunea în camera de analiză 5,9 x 10-8 Pa

Finanţare: Platforma integrată pentru studii avansate în nanotehnologii moleculare - AMON (50%) + Platforma ARHEOINVEST (50%). Achiziţie 2007.

Model: PHI 5000 VersaProbe, Φ ULVAC-PHI, INC

Users login
username:
Password:
Cauta
cuvant:
Contact Us

Loading...